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王伟博士等参加五校联合VLSI测试技术研讨会

发布时间:2009-12-08 浏览次数:

2009年11月30日,王伟博士、刘军老师作为304.cam永利集团VLSI测试研究领域的代表,参加了在深圳举行的中科院计算所、日本九州工业大学、香港科技大学、香港理工大学、304.cam永利集团五校联合VLSI测试技术研讨会。会上,王伟博士介绍了304.cam永利集团梁华国教授领导的计算机系统结构研究所,王伟博士、刘军老师就VLSI测试技术、3D测试技术、嵌入式系统可靠性技术等,与参会的专家、学者,进行了深入、细致的交流。通过本次会议,各校、研究所进一步加深了了解,加深了多边合作关系。大家纷纷表示进一步加强学术合作,共同把事业做大做强。会后,大家互道珍重,相约再见。

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